在測壓敏電阻漏流時,顯示漏流值為什么漸漸上升至穩(wěn)定,短時間內(nèi)測同一個元器件,測出的數(shù)據(jù)為什么不一致?
被測壓敏電阻在測試時,由于元器件內(nèi)部溫度影響,測漏流時,大電流的沖擊,壓敏電阻內(nèi)部溫度變化比較大,漏電流隨著溫度的變化而變化,zui后趨于穩(wěn)定。氣體放電管內(nèi)部由于是隋性氣體組成。在電流的沖擊下,短時間內(nèi)難以恢復(fù)原來狀態(tài)必須經(jīng)過一段時間恢復(fù),才能獲得準(zhǔn)確結(jié)果,保證重復(fù)測試精度。
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